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Filmetrics台式薄膜厚度测量系统

简要描述:F20 系列
世界上的台式薄膜厚度测量系统
只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)

  • 产品型号:F20
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2019-05-06
  • 访  问  量:1705

产品介绍

单点厚度测量--F20

一键搞定的薄膜厚度和折射率台式测量系统。 测量 1nm 到 13mm 的单层薄膜或多层薄膜堆。

微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量--F40

当测量斑点只有1微米(µm)时,需要用您自己的显微镜或者用我们提供的整个系统。

自动厚度测量系统--F50

几乎任何形状的样品厚度和折射率的自动测绘。人工加载或机器人加载均可。

自动化薄膜测绘

Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘,样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们的量产系统能够执行数百万次的量测!)

測绘圖案可以是极座標、矩形或线性的,您也可以创造自己的测绘方法,并且不受测量点数量的限制。內建数十种预定义的测绘圖案。

不同的 F50 仪器是根据波长范围来加以区分的。 标准的 F50是受欢迎的产品。 一般较短的波长 (例如, F50-UV) 可用于测量较薄的薄膜,而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

在线厚度测量系统--F30

监测控制生产过程中移动薄膜厚度。高达100 Hz的采样率可以在多个测量位置得到。

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